电阻器贮存寿命研究

• 作者: 朱亚芳
• 来源期刊: 安徽电子信息职业技术学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 金属膜电阻器 贮存 失效率 寿命
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 技术园地
• 页码范围: 74-75,79
• 页数: 3页
• 分类号: TM54
• 字数: 2160字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-802X.2008.04.035

摘要

电阻器在非工作状态下失效率和贮存寿命的研究是电子装备必须的基础数据,本文以精密金属膜电阻器为样本展开研究,研究结果表明:我公司的精密金属膜电阻器POK型、EE型、RJ型产品,非工作状态下失效率在置信度为90%时,至少达到2.7267×10-8元件小时,预计改进后的产品能够达到贮存寿命10年以上的要求.