纵向莫尔条纹在自准直仪中的应用

• 作者: 吴文明 吴易明 吴璀罡 高立民
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学细分 莫尔条纹 自准直仪
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 2544-2547
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 3465字
• 语种: 中文

摘要

为了提高自准直仪的分辨力,将纵向莫尔条纹引入到光路中,用长光栅代替传统单狭缝,将长光栅成像在CCD检测器上,CCD作为标尺光栅,通过两个光栅叠加形成的莫尔条纹的变化可以将成像位移分辨率提高到亚像元,进而将自准直仪的角度分辨率提高到毫秒级.实验结果表明,相对于直接检测狭缝边缘的方法,莫尔条纹法的分辨力提高了25倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴文明	中国科学院西安光学精密机械研究所	9	58	5.0	7.0
5	高立民	中国科学院西安光学精密机械研究所	46	617	13.0	23.0
6	吴易明	中国科学院西安光学精密机械研究所	30	243	10.0	14.0
7	吴璀罡	中国科学院西安光学精密机械研究所	5	28	3.0	5.0