T2000 GSMF-下一代低成本开放架构测试解决方案

• 作者: 周震一
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试设备 开放架构 T2000 GSMF
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 封装与测试
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1793字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2008.05.011

摘要

近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战.面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准-OPENSTAR以及基于此标准的T2000SoC测试系统,其中T2000 GSMF是最新发布的低成本的ATE解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周震一		1	0	0.0	0.0