硅基薄膜光电性能测试技术——电导温度曲线和光电导衰退的测试

• 作者: 刘石勇 孔光临 廖显伯 张长沙 彭文博 曾湘波 石明吉 郝会颖
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 硅基薄膜 电导 光电导 透射谱 电池量子效率
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 技术与产品
• 页码范围: 27-28,17
• 页数: 3页
• 字数: 2432字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0417.2008.07.007

摘要

介绍了硅基薄膜电导温度曲线和光电导衰退测试设备和方法,包括测试设备、采集数据的方法及测试的操作规程等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝会颖		22	29	4.0	4.0
2	廖显伯	中国科学院半导体研究所	31	378	7.0	19.0
3	曾湘波	中国科学院半导体研究所	6	81	5.0	6.0
4	刘石勇	中国科学院半导体研究所	2	16	2.0	2.0
5	彭文博	中国科学院半导体研究所	2	16	2.0	2.0
6	石明吉	中国科学院半导体研究所	2	16	2.0	2.0
7	张长沙	中国科学院半导体研究所	2	16	2.0	2.0
8	孔光临	中国科学院半导体研究所	7	70	4.0	7.0