基于读出电路结构的红外焦平面图像非均匀校正算法

• 作者: 何泰诚 全勇 朱红
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面 非均匀校正 读出电路结构 最小二乘算法
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 红外技术
• 页码范围: 66-70,127
• 页数: 6页
• 分类号: TN215
• 字数: 3821字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2008.02.014

摘要

为了改善基于图像配准的红外焦平面迭代非均匀校正算法的性能,在此基础上提出了一种新的红外焦平面图像非均匀校正算法.首先分析了真实图像的噪声规律,利用红外焦平面的读出电路结构特性建立了噪声模型.而后分两部分对算法原理进行分析,最后用仿真数据对算法的有效性给予了验证.通过与其他算法的校正结果比较,证实该算法具有收敛速度快、计算复杂度低,数据存储量小等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱红	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	25	361	9.0	18.0
2	全勇	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	4	23	3.0	4.0
3	何泰诚	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	3	18	2.0	3.0