基于遗传算法的芯片检测系统位置配准

• 作者: 石炜 董占民 郗安民
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 发光二极管 优化 非线性 遗传算法
• 年，卷（期）: 2008,（34）
• 所属期刊栏目: 软件天地
• 页码范围: 281-282,239
• 页数: 3页
• 分类号: TP752.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.34.115

摘要

针对发光二极管芯片检测系统位置配准的特殊性,建立了与之适应的位置配准模型.提出分步计算的方法,进行遗传算法优化,简化常规方法中的非线性求解问题.结果显示,该模型及其解法满足了发光二极管芯片位置配准要求,计算过程较为简便,易于数值求解.所提出的先进行常规求解,由常规解推演出搜索范围,而后进行遗传迭代搜索的方法结构简单、能实时在线检测、非接触及高精度等特点,对于其他图像模型的参数求解也具有很大的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董占民	清华大学物理系	10	31	3.0	5.0
2	郗安民	北京科技大学机械工程学院	65	294	9.0	13.0
3	石炜	北京科技大学机械工程学院	5	12	2.0	3.0