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摘要:
主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法.依据这些处理方法.阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试.
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数字集成电路逻辑电平接口技术研究
数字集成电路
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接口技术
内容分析
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文献信息
篇名 基于Verigy93000的高速数字集成电路测试
来源期刊 信息技术与标准化 学科 工学
关键词 高速数字信号 处理方法 Verigy93000 测试
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目 认证与检测
研究方向 页码范围 61-64
页数 4页 分类号 TN4
字数 1928字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-539X.2009.01.023
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴京燕 中国电子技术标准化研究所集成电路测试验证实验室 4 10 3.0 3.0
2 李军求 桂林电子科技大学电子工程学院 1 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
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2019(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高速数字信号
处理方法
Verigy93000
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与标准化
月刊
1671-539X
11-4753/TN
大16开
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
82-452
1959
chi
出版文献量(篇)
4638
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23
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