高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

• 作者: 全凌云 刘宏
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 寿命试验 应力筛选 高加速 技术
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 绿色质量与管理
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 分类号: TB301
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.02.019

摘要

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选(HALT & HASS)技术.重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时问与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏	中国电子科技集团公司第四十一研究所	58	385	9.0	18.0
2	全凌云	中国电子科技集团公司第四十一研究所	5	118	4.0	5.0