电子元器件快速评价新方法的应用研究

• 作者: 吕长志 李志国 郭春生
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 47-57
• 页数: 11页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.009

摘要

本文提出了电子元器件一种新的快速评价方法(CETRM),具有快速、准确、成本低、效率高等优点.能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数、退化机理;可对单样品求出与失效机理相应的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以高频小功率管3DG130样品为例,通过验证实验和与现场数据对比,证明了新方法的正确和有效.本方法特别适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)产品的可靠性定量评价,其试验周期为传统方法的1/8.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志国	北京工业大学电子信息与控制工程学院	57	418	12.0	18.0
2	郭春生	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	302	10.0	15.0
3	吕长志	北京工业大学电子信息与控制工程学院	60	471	12.0	18.0