一种研究电子元器件失效规律的新方法

• 作者: 张国明 张皓 怀光利 李继源 谢波 陈洪涛
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: GM计数管 可靠性 寿命 失效机理
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 19-23
• 页数: 5页
• 分类号: TN131+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.02.005

摘要

提出并采用了一种研究GM管失效规律的新方法,利用该方法研究了两种GM管的失效规律,并据此确定其使用寿命为18～20年,在此期间的失效率分别为5×10-6/h和4×10-6/h.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢波	防化研究院第二研究所	1	3	1.0	1.0
2	怀光利	防化研究院第二研究所	1	3	1.0	1.0
3	张国明	防化研究院第二研究所	1	3	1.0	1.0
4	陈洪涛	防化研究院第二研究所	2	5	2.0	2.0
5	张皓	防化研究院第二研究所	2	5	2.0	2.0
6	李继源	防化研究院第二研究所	1	3	1.0	1.0