TVS短路失效机理分析

• 作者: 贾颖 陈凯 黎明秀
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 瞬变电压抑制器 可靠性 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 32-36
• 页数: 5页
• 分类号: TM864|TN31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.01.009

摘要

常用电路保护器件的主要失效模式为短路,瞬变电压抑制器(TVS)亦不例外.TVS一旦发生短路失效,释放出的高能量常常会将保护的电子设备损坏,这是TVS生产厂家和使用方都想极力减少或避免的情况.通过对TVS筛选和使用短路失效样品进行解剖观察获得其失效部位的微观形貌特征.结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选或使用时所受的应力等,采用理论分析和试验证明等方法分析导致TVS器件短路失效的原因.分析结果表明引发TVS短路失效的内在质量因素包括粘结界面空洞、台面缺陷、表面强耗尽层或强积累层、芯片裂纹和杂质扩散不均匀等,使用因素包括过电应力、高温和长时间使用耗损等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾颖	北京航空航天大学可靠性工程研究所	10	85	5.0	9.0
2	黎明秀	北京航空航天大学可靠性工程研究所	2	22	2.0	2.0
3	陈凯		1	12	1.0	1.0