铂膜温度传感器可靠性定级加速试验研究

• 作者: 丁喜波 刘新华 孙永全 郭建英
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 失效率 铂膜温度传感器 可靠性定级试验 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1129-1133
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 3395字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2009.06.003

摘要

针对电子元器件可靠性定级试验面临的困难,结合铂膜温度传感器可靠性研究,探讨了一种可实现的定级加速试验.在分析失效机理的基础上,选定了Arrhenius加速模型,求得激活能与待定常数.利用铂膜温度传感器多功能测试系统,完成铂膜温度传感器可靠性定级加速试验.结果表明,在控制抽样数条件下,明显地缩短了试验时间,对工程实践有重要参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙永全	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	25	298	9.0	16.0
2	郭建英	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	71	768	14.0	24.0
3	丁喜波	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	46	211	8.0	11.0
4	刘新华	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	7	32	3.0	5.0