利用内容可寻址技术的存储器BISR方法

• 作者: 李晓维 王达 胡瑜 谢远江
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 内建自诊断 内建冗余分析 内建自修复 内容可寻址存储器
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 467-473
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 5305字
• 语种: 中文

摘要

随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构.针对此,提出了利用内容可寻址技术结合冗余行和冗余列来修复存储器的方法.该方法中,内容可寻址存储器不仅用于存储修复信息,还被用于当作冗余字替换故障字实现字修复,而冗余行和冗余列则分别用于修复行或列地址译码故障;并在译码逻辑输出端设计控制电路,避免对已修复的故障字进行访问.文中方法简单易行、面积开销小、利于扩展且修复效果好.实验结果表明,该方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和内容可寻址存储器面积开销最小约为已有二维冗余修复方法的20%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡瑜	中国科学院计算机系统结构重点实验室	22	220	7.0	14.0
5	谢远江	中国科学院计算机系统结构重点实验室	1	7	1.0	1.0
14	王达	中国科学院计算机系统结构重点实验室	9	253	4.0	9.0