改进的基于颜色滤波阵列特性的篡改检测

• 作者: 张雯 李学明
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 篡改检测 颜色滤波阵列 EM算法 拉普拉斯分布
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 图形、图像、模式识别
• 页码范围: 176-179,196
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 3587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2009.06.050

摘要

随着图像编辑软件的普及,数字图像可以很容易地被编辑和修改,但如果恶意篡改,后果可能会非常严重,因此图像篡改检测越来越重要.大部分数码相机都使用单传感器和颜色滤波阵列,并通过插值获得彩色图像.插值引入了相关性,而篡改操作会破坏这种相关性,可以使用EM算法对其进行检测.通过对已有模型进行改进,用拉普拉斯分布代替插值点残留误差的正态分布,使分布情况更符合实际.实验证明该算法可以检测出不同插值算法下的篡改痕迹,并且改进后的模型加快了EM算法的收敛速度,缩短了篡改检测的时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李学明	北京邮电大学信息工程学院	46	412	11.0	19.0
2	张雯	北京邮电大学信息工程学院	3	10	2.0	3.0