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摘要:
阐述了电路容差分析的基本概念,探讨了导致元器件参数漂移的因素及参数漂移对设备质量影响的方式,强调了电路容差分析在设备研制过程中的运用对提高设备设计质量的重要性.简要分析了电路容差分析流程,重点探讨了3种电路容差分析方法的优缺点、使用环境要求及应用方法.最后展望了电路容差分析的应用前景.
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文献信息
篇名 电路容差分析在设计中的应用
来源期刊 光电技术应用 学科 工学
关键词 设备质量 容差分析 参数漂移
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 49-52
页数 分类号 TN709
字数 3132字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-1255.2010.06.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 石永山 14 70 5.0 7.0
2 王飞 3 5 1.0 2.0
3 刘铭 13 99 5.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
设备质量
容差分析
参数漂移
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电技术应用
双月刊
1673-1255
12-1444/TN
大16开
天津市空港经济区纬五道9号
1982
chi
出版文献量(篇)
2224
总下载数(次)
8
总被引数(次)
9885
论文1v1指导