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摘要:
采用Mott弹性散射截面和Monte Carlo计算方法进行模拟,将Joy和Lou的Bethe修正公式作为解决能量损失问题的非弹性散射模型.描述电子束入射固体过程,确定散射角、方位角、自由程和散射点处能量等参数.利用能量不超过5keV的低能电子束,模拟在不同厚度的抗蚀剂中进行的刻蚀过程,得到了不同能量电子束在衬底表面光刻的最佳抗蚀剂厚度.
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文献信息
篇名 低能电子束曝光的散射研究
来源期刊 北京信息科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 Mott截面 Bethe修正公式 Monte Carlo 模拟 低能电子束
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 基础理论研究
研究方向 页码范围 23-26
页数 分类号 TN305.7
字数 3028字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-6864.2010.02.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 于肇贤 北京信息科技大学理学院 44 43 3.0 4.0
2 刘强 北京信息科技大学理学院 2 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
Mott截面
Bethe修正公式
Monte Carlo 模拟
低能电子束
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
北京信息科技大学学报(自然科学版)
双月刊
1674-6864
11-5866/N
大16开
北京市
1986
chi
出版文献量(篇)
2043
总下载数(次)
10
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11074
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