基于部分游程翻转的SoC测试数据压缩

• 作者: 梁华国 欧阳一鸣 邹宝升 黄喜娥
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 压缩/解压 变长输入Huffman编码 翻转
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 23-28
• 页数: 6页
• 分类号: TP302
• 字数: 3164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2010.00023

摘要

提出一种基于变长输入Huffman编码的SoC测试数据压缩方法,在测试序列中直接对连续的"0"游程和"1"游程进行编码.通过部分游程翻转的方法,使用单独的码字对翻转操作进行标识,使得长度相等的"0"和"1"游程共用一个码字,从而减少了短游程的数目.它的解压体系结构由一个Huffman解码器和控制生成单元(CUT)组成,且不需要循环扫描移位寄存器.实验结果表明,这种方法能够有效的压缩测试数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
3	黄喜娥	合肥工业大学计算机与信息学院	3	39	3.0	3.0
4	邹宝升	合肥工业大学计算机与信息学院	2	29	2.0	2.0