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摘要:
随着集成电路特征尺寸进入纳米级,高能粒子造成的软错误已对电路的正常工作构成严重威胁.流水线电路具有工作频率高、时序单元数量多的特点,易受软错误影响.本文对时序单元进行容错性能分析,并结合流水线电路的特点,利用新型容错时序单元结构,提出了一种容软错误的流水线电路设计方案.
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文献信息
篇名 流水线电路的容错设计
来源期刊 微型机与应用 学科 工学
关键词 软错误 锁存器 触发器
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 28-31
页数 分类号 TP302.8
字数 2088字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-7720.2010.09.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁华国 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 192 1611 19.0 30.0
2 黄正峰 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 101 590 14.0 19.0
3 吴珍妮 合肥工业大学计算机与信息学院 4 18 2.0 4.0
4 陈秀美 合肥工业大学计算机与信息学院 4 18 2.0 4.0
5 曹源 合肥工业大学计算机与信息学院 7 44 4.0 6.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
软错误
锁存器
触发器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
月刊
2096-5133
10-1543/TP
大16开
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
82-417
1982
chi
出版文献量(篇)
10909
总下载数(次)
33
总被引数(次)
35987
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
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