倒装焊封装对MEMS器件性能影响的有限元分析研究

• 作者: 唐洁影 宋竞 魏松胜
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 倒装芯片 凸点分布 有限元方法 吸合电压 谐振频率
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 446-451
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

对2×2、4×4、6×6、8×8面阵列凸点分布形式的倒装芯片分别进行了建模和模拟,分析了面阵列倒装芯片在常规温度载荷下芯片表面应力分布和变形的一般规律,并分析比较了凸点分布形式、基板类型对面阵列倒装芯片表面应力分布的影响,在此基础上估算了应力和变形对典型MEMS器件的影响.对于常规4×4面阵列情况,倒装焊后的悬臂梁吸合电压的最大相对变化率为5%,而固支梁一阶固有谐振频率最大相对变化率为110%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐洁影		7	27	3.0	5.0
2	魏松胜		1	0	0.0	0.0
3	宋竞		1	0	0.0	0.0