基于二叉树满足MC/DC测试用例设计方法

• 作者: 张宇 张波 王俊杰 陈媛
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 软件测试 MCdDC 二叉树 唯一原因法 屏蔽法
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 软件时空
• 页码范围: 171-173
• 分类号: TP311.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.03.069

摘要

软件测试是保证软件质量的有效方法,但测试工作过程繁琐,工作量较多.探索高效、可靠的测试用例设计方法一直是大家追求的目标,随着航空航天产品逻辑复杂性的提高及软件规模的日益增大,这种要求也变得更加迫切.依据MC/DC设计的测试用例既提高了测试用例设计的效率又增加了测试覆盖率,比较适合测试逻辑关系相对复杂的软件.当前的很多软件测试工具提供了软件测试覆盖率的判定功能,可以评定设计出的测试用例是否满足MC/DC的要求,而软件测试人员需要的是逆向的过程,论文提出应用唯一原因法和屏蔽法原理设计测试用例,可达到根据逻辑关系自动生成满足MC/DC要求测试用例的目的,提高了测试用例设计的效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张宇	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	212	2104	24.0	35.0
2	张波	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	209	2133	20.0	38.0
3	王俊杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	63	213	9.0	13.0
4	陈媛	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	17	27	3.0	4.0