光致发光PL技术在硅块检测中的应用

• 作者: J. J.W. Nyhus R.A. Sinton T．Trupke Weber 鲁永强（译）
• 来源期刊: 中国建设动态：阳光能源
• 学科: 工学
• 关键词: 光致发光影像 硅块 体少子寿命
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 72-74
• 页数: 3页
• 分类号: TN304.12

摘要

光致发光影像PL Imping技术应用在硅块检测方面已经开发出来，这项技术可以把掺硼铸锭硅块以高解析度，在极短时间内量测得到每一面的PL Imping影像。这些影像按照体少子寿命（τbulk）变化进行分析，并且针对类稳态光导（QSSPC）及微波光导量测技术（μ－PCD）进行比较，证明可以作为硅块分析工具。我们证明在辐照均匀下的量测结果不仅符合光伏产业的一个太阳（One Sun）辐照条件，当量测结果具备平均注入条件，更得到一致体少子寿命值测试结果。