基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
为了解决芯片测试过程中功耗密度大造成的局部过热(简称"热斑")问题,提出一种热量敏感的多播并行测试方法.对众核芯片采用多播并行测试时面临的"热斑"问题进行分析,提出一种无"热斑"的多播测试路径生成算法;在温度容限内对生成的多条单类同构芯核多播测试路径进行并行优化,形成无"热斑"的快速并行测试方案,同时缩短了测试时间.实验结果表明,采用文中方法能够有效地避免多播并行测试时的"热斑",并使测试时间缩短近45%.
推荐文章
面向众核结构的并行Comba乘法研究
大整数乘法
Comba乘法
众核处理器
并行化
负载均衡
基于神威众核处理器的排列熵算法并行加速方法
排列熵
神威众核处理器
MPI
OpenACC
嵌入维数
一种基于遗传算法的多 IP 核并行测试方法
AoC 测试
遗传算法
IP 核
并行测试
众核多计算模式系统的构建
众核处理机
Kepler GK110
计算模式
CUDA流
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 热量敏感的众核芯片多播并行测试方法
来源期刊 计算机辅助设计与图形学学报 学科 工学
关键词 众核芯片 并行测试 多播技术 热斑
年,卷(期) 2010,(5) 所属期刊栏目 VLSI设计与测试及电子设计自动化
研究方向 页码范围 845-851
页数 分类号 TP306.2
字数 5967字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩银和 中国科学院计算机系统结构重点实验室 48 573 12.0 22.0
2 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室 127 1467 20.0 32.0
3 方芳 合肥工业大学管理学院 28 197 7.0 13.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (3)
共引文献  (2)
参考文献  (3)
节点文献
引证文献  (6)
同被引文献  (8)
二级引证文献  (21)
1998(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2004(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2007(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2008(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2010(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2013(3)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(1)
2014(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2015(9)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(6)
2016(3)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(3)
2017(4)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(4)
2018(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
2019(4)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(4)
研究主题发展历程
节点文献
众核芯片
并行测试
多播技术
热斑
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机辅助设计与图形学学报
月刊
1003-9775
11-2925/TP
大16开
北京2704信箱
82-456
1989
chi
出版文献量(篇)
6095
总下载数(次)
15
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:http://www.863.org.cn
项目类型:重点项目
学科类型:信息技术
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导