基于Bellcore标准的电子产品可靠性预计方法及案例研究

• 作者: 康锐 曹然 陈颖
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: ellcore 电子产品 可靠性预计 失效率 MTBF
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 认证与实验室
• 页码范围: 60-61,83
• 分类号: TP202+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.06.021

摘要

介绍了Bellcore标准进行可靠性预计的理论基础.包括元器件失效率与单元失效率模型等.利用Bellcore现行的Telcordia SR-332标准手册,对某用于商用环境中的单板计算机进行了可靠性预计.给出了该单板计算机MTBF预计的过程和方法,以及失效率和MTBF的预计结果,并与军用标准的预计结果进行了对比,说明了Bellcore标准目前存在的一些问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康锐	北京航空航天大学可靠性工程研究所	141	1889	25.0	38.0
2	陈颖	北京航空航天大学可靠性工程研究所	23	151	9.0	11.0
3	曹然	北京航空航天大学可靠性工程研究所	1	9	1.0	1.0