SF6气体及其衍生物的红外光谱分析

• 作者: 杜双育 王先培 蔡涛 黄云光
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 红外光谱技术 六氟化硫 气体绝缘组合电器
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 2967-2970
• 分类号: TM855
• 字数: 3769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2010)11-2967-04

摘要

SF6气体大量应用于气体绝缘组合电器(GIS)中.通过化学方法检测SF6气体及其衍生物是检测GIS设备故障的一种蕈要方法.该文采用红外光谱技术分析了三种情况下的GIS设备内SF6气体组成情况,得出S2 F10气体含量可以用来分析GIS故障原因是否为强火花或者电弧放电引起;CF4气体可以用来表征GIS设备内绝缘气体的绝缘状态.另外,研究表明,GIS设备在线运行时,绝缘气体气室密封失效、造成气体泄漏,引入新的气体杂质的问题比较严重.所以在进行GIS设备维护工作时,绝缘气室的密封维护工作十分重要.文章在研究GIS设备绝缘气体SF6红外谱图的基础之上提出了建立基于红外光谱技术的GIS设备故障诊断专家系统的意见.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡涛	武汉大学系统集成与故障诊断实验室	10	152	6.0	10.0
2	杜双育	武汉大学系统集成与故障诊断实验室	9	132	5.0	9.0
3	王先培	武汉大学系统集成与故障诊断实验室	109	1198	16.0	30.0
4	黄云光		11	99	7.0	9.0