FPGA配置芯片测试方法的研究与实现

• 作者: 石雪梅 计贤春
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 配置芯片 IEEE1149.1
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 77-79,87
• 分类号: TM93
• 字数: 1590字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.023

摘要

集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试.介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据.