复用NoC测试SoC内嵌IP芯核的测试规划研究

• 作者: 师奕兵 王志刚 赵建武
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 片上网络 微系统芯片 内嵌IP芯核 测试规划
• 年，卷（期）: 2010,（15）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 60-63,101
• 分类号: TN407
• 字数: 4143字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2010.15.019

摘要

测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题.一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功耗不超出最大芯片功耗范围,消除测试资源共享所引起的冲突,达到减小测试时间的目的.提出了支持测试规划的无拥塞路由算法和测试扫描链优化配置方法.使用VHDL硬件描述语言实现了在FPGA芯片中可综合的二维Mesh片上网络测试平台,用于片上网络性能参数、路由算法以及基于片上网络的SoC芯片测试方法的分析评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	师奕兵	电子科技大学自动化工程学院	153	1324	19.0	27.0
2	赵建武	电子科技大学自动化工程学院	7	71	3.0	7.0
3	王志刚	电子科技大学自动化工程学院	116	822	17.0	24.0