CMOS像传感器光饱和效应研究

• 作者: 常国龙
• 来源期刊: 福建分析测试
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS像传感器 光饱和 成像 激光
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 60-62
• 分类号: TN247
• 字数: 1994字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8143.2011.03.015

摘要

图像传感器在光学测量中具有重要作用,随着光源光强的提高,图像传感器处于饱和光强的情况越来越多.因此本文通过采用激光辐照CMOS像传感器的方法,研究了CMOS像传感器的饱和效应,明显观察到高光强使得图像灰度由亮变暗现象.该研究可以为高光强测试以及相机设计及后续图像处理提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常国龙		1	4	1.0	1.0