SoC事务级随机测试功能验证有效性评估

• 作者: 曹阳 苏璠 马秦生 高洵
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 验证 随机过程 功能 事务级
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 测试
• 页码范围: 66-70
• 分类号: TN
• 字数: 3042字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2011.01.012

摘要

针对测试向量放回和不放回两种情况,采用对比评估法,以发现错误的能力和提交的可靠性为标准,论证了SoC事务级随机测试功能验证的有效性.评估结果表明,划分测试仅在错误区包含某个或几个子域的特殊情况下有高于随机测试的验证效果,而随机测试则可能在更一般的情况下优于划分测试的验证效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹阳	武汉大学电子信息学院	117	1245	17.0	29.0
2	马秦生	武汉大学电子信息学院	15	127	5.0	11.0
3	高洵	武汉大学电子信息学院	8	40	3.0	6.0
4	苏璠	武汉大学电子信息学院	1	0	0.0	0.0