基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试

• 作者: 杨军 虞致国 魏敬和 黄嵩人
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 可测试性设计 JTAG 板级调试
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 各种电路设计、分析及应用
• 页码范围: 1210-1213
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.04.036

摘要

可测试性设计技术是SoC设计中的一个重要技术.在设计8位SoC系统芯片时,不仅考虑到可测试性设计,而且还利用OCI模块上的JTAG接口.可以方便地与板级系统相结合,能够快速对芯片进行功能验证和系统调试,大大缩短产品的上市时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	虞致国		30	143	6.0	10.0
3	魏敬和		69	261	7.0	13.0
4	黄嵩人		14	55	3.0	7.0