高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式

• 作者: 杨晓寒 王浩
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: MPW测试 IC测试 解决 改良
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 测试
• 页码范围: 61-64
• 分类号: TN407
• 字数: 1950字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2011.02.010

摘要

本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率.列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王浩	无锡华润上华半导体有限公司设计服务中心	8	20	2.0	4.0
2	杨晓寒	无锡华润上华半导体有限公司设计服务中心	1	0	0.0	0.0