嵌入式芯片测试系统设计

• 作者: 杨涛 金铁 陈俊良
• 来源期刊: 致富时代（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式芯片 FPGA 人机交互界面
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 教育
• 页码范围: 165
• 分类号: TP3
• 字数: 1605字
• 语种: 中文

摘要

该文针对微型IT设备嵌入式芯片构建了一整套嵌入式测试系统,该系统主要包括源代码的输入与保存,源文件的读取与显示,交又编译,串口的输入输出和程序运行日志五个部分,同时也对该系统的整体性和灵活性问题进行了相应的探究,力图为嵌入式芯片的发展奠定良好的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨涛		70	62	3.0	7.0
2	金铁		30	82	5.0	8.0
3	陈俊良		13	12	2.0	3.0