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摘要:
基于高温扩散理论,研究了不同温度下Al在GaAs中的扩散情况.利用扫描电子显微镜(SEM)对Al在GaAs中的浓度分布和Al与GaAs的界面进行了表征.结果表明:当扩散温度较低时(650℃),Al在GaAs中扩散较快,可获得较佳的扩散结果.当温度升高后(800℃),GaAs中的As挥发增强,其在Al和GaAs界面处富集,阻碍了Al向GaAs中的扩散.最后根据实验结果,利用Fick定律计算了在650℃下AlGaAs靶的制备时间.
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文献信息
篇名 基于高温扩散的AlGaAs靶制备
来源期刊 信息与电子工程 学科 工学
关键词 AlGaAs 高温扩散 扫描电子显微镜
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 太赫兹光子学与光电子学
研究方向 页码范围 358-360
页数 分类号 TN249|O791
字数 1497字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-2892.2011.03.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴卫东 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 140 1087 18.0 26.0
2 王雪敏 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 16 26 4.0 5.0
3 阎大伟 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 6 5 2.0 2.0
4 沈昌乐 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 5 3 1.0 1.0
5 彭丽萍 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 3 0 0.0 0.0
6 王瑜英 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 5 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
AlGaAs
高温扩散
扫描电子显微镜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太赫兹科学与电子信息学报
双月刊
2095-4980
51-1746/TN
大16开
四川绵阳919信箱532分箱
62-241
2003
chi
出版文献量(篇)
3051
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11167
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