静态时序分析中不同工作模式的分析及应用

• 作者: 曹建
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 延时 工作环境 最好-最坏模式 全芯片变化模式 建立时间 保持时间
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 127-129,132
• 分类号: TN47
• 字数: 2992字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2011.01.037

摘要

为了使STA(静态时序分析)结果更接近实际芯片工作环境的情况,可以通过设置不同的分析模式来进行时序仿真.芯片设计工作环境包括工艺、工作电压、工作温度的参数(PVT).根据不同的PVT组合,可以得到WORST、TYPICAL、BEST的工作条件.并在STA中通过3种模式:单一模式(single mode)、最好-最坏模式(bc-wc mode)、全芯片变化模式(ocv mode)来仿真芯片实际的工作情况.将对不同的工作模式进行分析,并阐述其在深亚微米芯片设计过程中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹建	上海交通大学微电子学院	3	12	2.0	3.0