FPGA测试配置完备性的分析评价方法

• 作者: 周发标 杨海钢 王飞 秋小强
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 测试覆盖率 故障仿真 测试配置
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 虚拟现实与交互技术
• 页码范围: 1672-1679
• 分类号: TN402
• 字数: 6742字
• 语种: 中文

摘要

测试配置开发是FPGA测试中的重要环节之一,为加快FPGA测试配置开发进程,提出一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法.首先建立FPGA基本可编程单元的配置词典,给出其完备测试需要的所有配置码；然后采用模板化的方法分析测试配置,计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性.实验结果表明,文中方法能够正确地评价测试配置的完备程度,报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源；与故障仿真方法相比,该方法的时间复杂度从O(kpn2)减少到O(kn′),运行时间从数百小时缩短到几分钟,且运行时间独立于FPGA的阵列规模.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨海钢	中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室	134	485	10.0	15.0
2	王飞	中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室	110	836	15.0	23.0
3	秋小强	中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室	5	23	4.0	4.0
7	周发标	中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室	4	21	3.0	4.0