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摘要:
对Si(100)和Si(111)采用相同的酸刻蚀工艺,采用热丝化学气相沉积法(HFCVD)制备金刚石膜.用扫描电子显微镜、X线衍射仪和X线应力测试仪对样品的形貌、织构及残余应力进行检测、分析.研究结果表明:沉积3 h后,Si(100)和Si(111)基体上均生长出晶形比较完整,呈柱状晶方式生长的金刚石薄膜;此外,Si(100)金刚石膜表面分布着大量的微孔,通过调整沉积工艺可控制微孔的数量和尺寸,而Si(111)金刚石膜表面无微孔出现;2种基体所得薄膜都存在(111)织构,后者Si(111)还有一定的(110)织构;2种基体经酸刻蚀之后制得薄膜均无鼓泡剥离现象,二者的残余应力相差不大.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 酸刻蚀处理对Si(100)和Si(111)上制备CVD金刚石膜的影响
来源期刊 中南大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 金刚石薄膜 热丝化学气相沉积 酸刻蚀
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 650-657
页数 分类号 TG166.3
字数 5703字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 余志明 中南大学材料科学与工程学院 80 689 15.0 21.0
5 尹登峰 中南大学材料科学与工程学院 45 401 10.0 19.0
6 魏秋平 中南大学材料科学与工程学院 35 149 7.0 9.0
10 马莉 中南大学粉末冶金国家重点实验室 29 165 8.0 12.0
11 宋玉波 中南大学材料科学与工程学院 2 8 1.0 2.0
12 胡应涛 中南大学材料科学与工程学院 1 1 1.0 1.0
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热丝化学气相沉积
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