电子产品动态损伤最优估计与寿命预测

• 作者: 周越文 方甲永 王邑 肖明清
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 动态损伤 寿命预测 粒子滤波 不确定性
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 807-812
• 分类号: TP277
• 字数: 4302字
• 语种: 中文

摘要

针对电子产品寿命预测中存在的不确定性因素影响,提出一种基于粒子滤波的电子产品动态损伤最优估计和寿命预测方法.首先建立了电子产品动态损伤HMM模型;分析了电子产品动态损伤和寿命预测中的不确定性因素;通过贝叶斯滤波模型,将寿命预测的不确定性问题转化为最优估计问题;利用粒子滤波算法求解出电子产品动态损伤的最优估计值,从而进行寿命预测;实验证明,该方法可有效消除系统和测量因素的干扰,明显提高电子产品剩余寿命预测的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖明清	空军工程大学自动测试系统试验室	222	1568	18.0	30.0
2	周越文	空军工程大学自动测试系统试验室	40	270	9.0	15.0
3	王邑	空军工程大学自动测试系统试验室	8	77	5.0	8.0
4	方甲永	空军工程大学自动测试系统试验室	19	110	7.0	9.0