美国国家半导体扩展传感器AFE系列阵容

• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 美国国家半导体公司 传感器 AFE 精度检测系统 列阵 通道配置 模拟前端 设计人员
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 业界要闻
• 页码范围: 11-11
• 分类号: TN95
• 字数: 1066字
• 语种: 中文

摘要

美国国家半导体公司近日宣布推出七款全新24位和16位多通道传感器模拟前端（AFE），为系统设计人员提供了从高性能到低成本的更大范围选择，涵盖了通道配置、电流源、分辨率等选项。美国国家半导体的LMP900xx传感器AFE集成电路（IC）为连接传感器和微控制器提供了一种简单配置的信号路径解决方案。该解决方案用于针对工业、医疗、测试和测量应用中的高精度检测系统，