杂质对溶胶-凝胶SiO2薄膜激光损伤的影响

• 作者: 吕海兵 李熙斌 王治国 祖小涛 章春来 袁晓东
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 溶胶-凝胶 SiO2增透膜 激光预处理 激光辐照损伤
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 1267-1271
• 分类号: TN24
• 字数: 3209字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112305.1267

摘要

采用溶胶-凝胶法制备了含有吸收性杂质和非吸收性杂质的SiO2增透膜,采用波长为1 064 nm的激光对其进行了小光斑激光预处理,对比研究了预处理前后的激光损伤差异,研究表明:激光预处理对于洁净的SiO2薄膜影响不大;含10 μm SiO2颗粒杂质的样品微透镜效应很明显,容易成为损伤起始的种子,激光预处理后情况有所改善;含有CeO2颗粒杂质的样品表现出了很强的吸收性质,损伤阈值降低到不足洁净样品的一半.所有样品激光预处理后损伤形貌未发生变化,透光率峰值均有约50 nm的蓝移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖小涛	电子科技大学物理电子学院	111	627	12.0	17.0
2	袁晓东	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	114	624	13.0	17.0
3	吕海兵	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	49	310	9.0	14.0
4	王治国	电子科技大学物理电子学院	20	92	6.0	7.0
5	章春来	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	2	9	2.0	2.0
9	李熙斌	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	5	16	3.0	4.0