数字电路冗余故障识别算法的研究与实现

• 作者: 刘润琛 申望
• 来源期刊: 机电信息
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 故障诊断 冗余识别
• 年，卷（期）: 2011,（18）
• 所属期刊栏目: 综合研究
• 页码范围: 235-236
• 分类号: TN79
• 字数: 2456字
• 语种: 中文

摘要

智能电器中数字电路的高度集成化使测试难度增强,测试和维护已成为超大规模集成电路的关键问题.基于数字电路自动测试系统的构建,针对阻碍测试向量生成的冗余故障,提出在测试前将其剔除以提高测试生成效率的方案.设计并实现了基于冲突赋值的冗余故障分析算法,基于国际标准测试电路ISCAS85和ISCAS89的实验结果表明,该方法可准确识别大量冗余故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘润琛		3	2	1.0	1.0
2	申望		2	0	0.0	0.0