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摘要:
本课题以手机芯片封装质量控制为研究对象.通过一些实证来阐述和分析存在手机芯片质量中的问题,同时为在实际应用中起到很好的参考作用.
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基带芯片
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无线射频识别(RFID)
标签
芯片贴装
质量控制
基于多核手机芯片的TD-SCDMA非信令模式下行同步方案
TD-SCDMA
多核手机芯片
非信令模式
下行同步
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 手机芯片质量控制实证研究
来源期刊 计算机光盘软件与应用 学科 工学
关键词 手机芯片 质量控制 实证研究
年,卷(期) 2011,(10) 所属期刊栏目 工程技术
研究方向 页码范围 56-56
页数 分类号 TP393
字数 1542字 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
手机芯片
质量控制
实证研究
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机光盘软件与应用
半月刊
1007-9599
11-3907/TP
北京市
18-160
1998
chi
出版文献量(篇)
21096
总下载数(次)
62
总被引数(次)
37824
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