宇航元器件级应用验证的质量管理

• 作者: 孙淑先 黄超
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 学科: 工学
• 关键词: 宇航元器件 应用验证 质量管理
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 元器件质量管理
• 页码范围: 27-31
• 页数: 5页
• 分类号: TQ460.5
• 字数: 5388字
• 语种: 中文

摘要

详细阐述了型号用关键电路某型处理器及协处理器元器件级应用验证过程的质量管理活动,说明了应用验证质量管理的重要性,并提出了改进建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄超		3	9	1.0	3.0
2	孙淑先		1	8	1.0	1.0