电子元器件的失效机理和常见故障分析

• 作者: 刘宇通
• 来源期刊: 数字通信
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 失效 机理 缺陷 故障
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 92-96
• 页数: 5页
• 分类号: TN60

摘要

电子元器件在使用过程中，常常会出现失效和故障，从而影响设备的正常工作。分析了常见的电阻器类、电信器类、电感和变压器类以及集成块类电子元器件的失效模式和失效机理、失效原因和常见的故障现象。实践证明：只有了解电子元器件的失效机理和常见故障，才能保证设备或系统的可靠性工作。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宇通	河南工业职业技术学院机电工程系	16	20	2.0	4.0