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如何保护集成电路布图设计
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摘要：
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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
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CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计
互补型金属氧化物集成电路
静电放电
保护电路
电源和地
CMOS集成电路的抗辐射设计
CMOS集成电路
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总剂量效应
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期刊影响力
家电科技
主办单位：
中国家用电器研究院
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-0172
CN：
11-4824/TM
开本：
大16开
出版地：
北京市宣武区下斜街29号
邮发代号：
2-129
创刊时间：
1981
语种：
chi
出版文献量（篇）
9328
总下载数（次）
11
总被引数（次）
7982
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