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摘要:
采用传统陶瓷烧结方法,制备了CaCu3Ti4O12(CCTO)-xZnO(x=0,0.05,0.20,0.60,1.00)陶瓷样品.应用X射线衍射仪及扫描电镜,分别确定了样品的物性和形貌.利用阻抗分析仪测定了不同频率和温度下材料的介电常数和介电损耗,研究了ZnO对CCTO材料的微观结构和介电性能的影响.结果表明:添加ZnO可促进CCTO晶界处小晶粒生长,抑制大晶粒生长,降低CCTO陶瓷样品高频范围的介电损耗.当x=1时,在1kHz~1MHz频率范围内,tanδ均小于1.1,并且可将陶瓷的压敏电压提高至100V/mm.这为优化CCTO材料性能、推进其在电容器方面的应用,提供了一定的实验依据.
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文献信息
篇名 CaCu_3Ti_4O_(12)-xZnO陶瓷介电性能研究
来源期刊 陕西师范大学学报:自然科学版 学科 工学
关键词 CaCu3Ti4O12(CCTO) 巨介电常数 压敏电压
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 23-26
页数 4页 分类号 TB333|TB484.5
字数 1516字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘鹏 陕西师范大学物理学与信息技术学院 110 534 13.0 17.0
2 王亚娟 陕西师范大学物理学与信息技术学院 13 50 4.0 6.0
3 杨锋莉 陕西师范大学物理学与信息技术学院 2 3 1.0 1.0
4 闫妍 陕西师范大学物理学与信息技术学院 2 3 1.0 1.0
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CaCu3Ti4O12(CCTO)
巨介电常数
压敏电压
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陕西师范大学学报(自然科学版)
双月刊
1672-4291
61-1071/N
大16开
陕西省西安市长安南路
52-109
1960
chi
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