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摘要:
分别用定义的深度提取精密度和深度提取正确度对实验结果进行分析,从结果的整体分布和整体偏差两个方面证明了线性插值对基于集成成像的深度提取具有增强作用.由于单元透镜数量众多,单个图像传感器像素个数有限,传统的基于集成成像的深度提取受到单元图像低分辨率的制约.无需额外的硬件移动,采用线性插值将单元图像像素个数增加一倍,深度提取精密度提升了20%,深度提取正确度提升了15%.集成成像可以同时实现三维场景的重建和深度的提取.这是其他深度提取技术所不具备的特点.插值后得到的深度信息,使目标物体的重建图像更为清晰.基于集成成像的深度提取可应用于三维场景的背景去除.
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文献信息
篇名 基于集成成像的深度提取线性插值增强方法
来源期刊 量子电子学报 学科 物理学
关键词 图像与信息处理 深度提取 集成成像 线性插值 三维场景重建
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 图像与信息处理
研究方向 页码范围 135-141
页数 分类号 O438
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2012.02.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 明海 中国科学技术大学光学与光学工程系 104 743 13.0 21.0
2 徐晶 中国科学技术大学光学与光学工程系 6 39 4.0 6.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
图像与信息处理
深度提取
集成成像
线性插值
三维场景重建
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
量子电子学报
双月刊
1007-5461
34-1163/TN
大16开
安徽省合肥市1125邮政信箱
26-89
1984
chi
出版文献量(篇)
2856
总下载数(次)
6
总被引数(次)
17822
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