GR30全自动转塔式测试分选编带一体机

• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 测试分选 一体机 转塔式 全自动 电参数测试 激光打标 半导体 芯片
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 企业之窗
• 页码范围: 61-61
• 页数: 1页
• 分类号: TN606
• 字数: 314字
• 语种: 中文

摘要

格兰达技术（深圳）有限公司最新研发的GR30全自动转塔式测试分选编带一体机，是一款集芯片、标示检测、电参数测试、激光打标、分类筛选储存及编带／料管包装输出等多种功能，性能达到国际先进水平的高端半导体封测设备。