高速列车过分相段下真空断路器的电寿命研究

• 作者: 吴广宁 李天鸷 欧阳乐成 王万岗 高国强
• 来源期刊: 机车电传动
• 学科: 交通运输
• 关键词: 真空断路器 电寿命 高速列车 过分相 接触电阻 电接触
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 研究开发
• 页码范围: 26-29
• 分类号: U264.3+5|U292.91+4
• 字数: 3508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-128X.2012.04.007

摘要

针对高速列车真空断路器(VCB)在列车运行中处于频繁开断的状态,开断过程中电弧反复烧蚀触头产生尖端、毛刺、金属蒸汽,扩散的金属蒸汽又使灭弧室真空度降低,首次提出了通过测量VCB在分断不同次数正常电流下接触电阻表征其电寿命的试验方法,并得到了不同分断次数下耐受冲击电压和工频工作电压的特性.研究表明:VCB初期接触电阻随分断次数增加而增加,之后接触电阻基本保持不变；在VCB使用初期瞬态恢复电压不能导致电弧重燃,长期工作后可能导致电弧多次重燃,但即使长期工作后工频工作电压仍不能击穿灭弧室.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	高国强	西南交通大学电气工程学院	98	908	19.0	27.0
3	王万岗	西南交通大学电气工程学院	22	402	9.0	20.0
4	李天鸷	西南交通大学电气工程学院	5	86	4.0	5.0
5	欧阳乐成	西南交通大学电气工程学院	3	25	2.0	3.0