非偏振分光镜对干涉式椭偏仪测量精度的影响

• 作者: 李学金 洪学明 耿优福 邓元龙
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 椭偏测量 干涉式椭偏仪 非偏振分光镜 膜厚测量 退偏效应 方位角误差
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2373-2379
• 分类号: TH744.3|O484.5
• 字数: 2964字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20122011.2373

摘要

提出了一种新型激光外差干涉椭偏测量术用于实现纳米级精度的薄膜厚度测量.采用偏振光p和s分量透射比、反射比、反射相移、透射相移共同表征非偏振分光镜(NPBS)的退偏效应,建立了相应的误差模型,从而研究了多层介质膜NPBS的退偏效应和方位角对椭偏参数误差的影响.研究结果表明,由环境温度、入射角和光束偏振态的变化引起的NPBS退偏参数的漂移对椭偏测量精度影响很大,且无法通过标定来降低.为实现纳米级测量精度,NPBS的对准误差需要控制在0.1°以内.相对而言,用于合光的NPBS方位角误差对测量精度影响较大,NPBS所导致的膜厚测量总误差约为1.8～2.5 nm,说明NPBS是马赫曾德尔干涉式椭偏仪的一个不可忽视的误差源.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓元龙	深圳大学机电与控制工程学院	27	142	8.0	11.0
3	李学金		4	15	3.0	3.0
4	耿优福		2	3	1.0	1.0
7	洪学明		1	3	1.0	1.0