基于 ARM7数字集成电路测试仪的设计

• 作者: 戴家友
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 测试仪 LPC2103 检测 集成电路
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 134
• 分类号: TN431
• 字数: 1569字
• 语种: 中文

摘要

本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴家友		1	1	1.0	1.0