发光强度测量与计算在探针测试中的应用

• 作者: 宋婉贞 李斌 田洪涛
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱仪 发光强度参数 计算与校准
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术与设备
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 1921字
• 语种: 中文

摘要

通过对光谱仪的控制,对各项发光强度参数的计算与校准,在传统的探针设备基础上增加发光强度的测试过程,从而丰富探针设备的功能.目前设备已经达到红、黄、蓝光芯片的测试的要求,并在客户现场投入使用.主要总结归纳发光强度测量计算方法与实验结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田洪涛	中国电子科技集团公司第四十五研究所	13	16	3.0	3.0
2	宋婉贞	中国电子科技集团公司第四十五研究所	11	10	2.0	2.0
3	李斌	中国电子科技集团公司第四十五研究所	89	251	10.0	12.0